Μας ελάτε σε επαφή με

Υπεύθυνος : Phoebe Yu

Τηλεφωνικό νούμερο : 8618620854039

Το WhatsApp : +8618620854039

USB 3.0 Connectivity and Active Cooling System The Winning Combination for Our Fiber Optic Spectrometer

Επικοινωνήστε

Η συνδεσιμότητα USB 3.0 και το ενεργό σύστημα ψύξης Ο νικητής συνδυασμός για το οπτικό μας φασματογράφο

Ποσότητα παραγγελίας min :	1	Τιμή :	Διαπραγματεύσιμα
Συσκευασία λεπτομέρειες :	Διεθνές πακέτο αποστολής	Χρόνος παράδοσης :	30-400 εργάσιμες ημέρες
Όροι πληρωμής :	T/T, Western Union	Δυνατότητα προσφοράς :	100PCS/30-40 ημέρες

Τόπος καταγωγής:	Κίνα	Μάρκα:	JINSP
Πιστοποίηση:	ISO9001 CE	Αριθμό μοντέλου:	SR100Z
Έγγραφο:	Βιβλίο του προϊόντος PDF

Λεπτομερής ενημέρωση
Φασματικό εύρος:	200 nm - 1100 nm	Αποτελεσματικά Pixels:	2048*64
Μέγεθος εικονοκυττάρου:	28.672*0.896mm	Διεπαφή ινών:	SMA905, ελεύθερος χώρος.
Αριθμητικό άνοιγμα:	0.13	Εστιακό μήκος:	100 χιλιοστά
Μέγεθος:	180mm120mm50mm	Βάρος:	1.2kg

Περιγραφή προϊόντων

UV-VIS 200nm-1100nm ευρύτατο εύρος κύματος Φυτικό οπτικό φασματογράφο

Το SR100Z ανιχνεύει ό,τι οι άλλοι χάνουν.κρίσιμη για την ανίχνευση φθορισμού με χρονική ανάλυση και χαμηλής συγκέντρωσης RamanΤο μέγεθος των 14μm pixel επιτυγχάνει την ιδανική ισορροπία ανάμεσα στην ανάλυση και τη φωτεινή ροή.

Πέρα από το υλικό, τα έξυπνα χαρακτηριστικά του λογισμικού περιλαμβάνουν τη διόρθωση βασικής γραμμής σε πραγματικό χρόνο και τον προσαρμοστικό έλεγχο ολοκλήρωσης.Είναι η απρόσκοπτη αναβάθμιση για εργαστήρια που αναζητούν βιομηχανική αξιοπιστία..

Παράμετροι προϊόντος:

Ανιχνευτής	Τύπος τσιπ	Επιστροφικά φωτισμένο σύστημα ψύξης TE Hamamatsu S11850
	Πιξέλες	2048*64
	Μέγεθος pixel	14*14μm
	Περιοχή αισθητήρα	28.672*0.896mm
Οπτική Παράμετροι	Οπτικό σχεδιασμό	Τύπος σταυρού F/4
	Αριθμητικό άνοιγμα	0.13
	Εστιακό μήκος	100 χιλιοστά
	Διάμετρος τρύπας εισόδου	10μm, 25μm, 50μm, 100μm, 200μm (προσαρμόσιμα)
	Διασύνδεση ινών	SMA905, ελεύθερος χώρος.
Ηλεκτρική Παράμετροι	Χρόνος ένταξης	4ms ~ 900s
	Διασύνδεση εξόδου δεδομένων	USB3.0, RS232, RS485, 20pin συνδέσμου
	Βαθμός μονάδας ADC	16-bit
	Ηλεκτρική τροφοδοσία	5V
	Τρόπος λειτουργίας	< 3,5A
Επιστήμη Παράμετροι	Θερμοκρασία λειτουργίας	10°C ~ 40°C
	Θέρμανση αποθήκευσης	-20°C ~ 60°C
	Υγρασία λειτουργίας	< 90% RH (χωρίς συμπύκνωση)
	Μέγεθος	180mm120mm50mm
	Βάρος	1.2kg

Κατάλογος μοντέλων προϊόντων:

Σχήμα	Φασματικό εύρος(nm)	Απόφαση(nm)	Σχισμή(μm)
SR100Z-G21	200~1100	2.2nm	50 μm
		1.5nm	25 μm
		1.0nm	10 μm
SR100Z-G23 SR100Z-G24	200 έως 875 350 έως 1025	1.6nm	50 μm
		1.0nm	25 μm
		0.7nm	10 μm
SR100Z-G28	200 έως 345	0.35nm	50 μm
		0.2nm	25 μm
		0.14nm	10 μm
SR100Z-G25	532~720(4900cm-1)	13cm-1	50 μm
SR100Z-G26	638~830(3200cm-1)*	10 εκατοστά-1	25 μm
SR100Z-G27	785~1080(3200cm-1)*	11 εκατοστά-1	50 μm

Σημείωση:Τα συστήματα αυτά έχουν σχεδιαστεί κυρίως για εφαρμογές Raman, με το αντίστοιχο Raman.

Τεχνικά χαρακτηριστικά:

Υψηλή ευαισθησία: 78% κορυφαία κβαντική απόδοση, βελτιστοποίηση UV ζώνης
Υψηλή ανάλυση: Ανάλυση <1.0nm@25um (200~875nm)
Υψηλή ευελιξία: 200nm~1100nm, συμβατό με πολλαπλές διεπαφές, συμπεριλαμβανομένου του USB3.0, RS232 και RS485

Τυπικές εφαρμογές:

Ανίχνευση απορρόφησης, διαπερατότητας και αντανάκλασης
Μονάδα προϊόντος OEM: φάσμα φθορισμού, φάσμα Raman, κλπ.

Η συνδεσιμότητα USB 3.0 και το ενεργό σύστημα ψύξης Ο νικητής συνδυασμός για το οπτικό μας φασματογράφο 0

Εισαγωγή της εταιρείας:

Η JINSP Company Limited, συντομογραφία "JINSP", είναι επαγγελματίας προμηθευτής με πάνω από 17 χρόνια εμπειρίας σε προϊόντα τεχνολογίας φασματικής ανίχνευσης, συμπεριλαμβανομένων των τεχνολογιών Raman, FT-IR, LIBS κλπ.Μετά από 17 χρόνια συσσώρευσης τεχνολογίας, οι βασικές βασικές τεχνολογίες της εταιρείας έχουν φθάσει τη διεθνή ηγετική θέση σε επίπεδο και ο σωρευτικός αριθμός των αιτήσεων ευρεσιτεχνίας ξεπέρασε τις 200.

Εκτός από την κύρια έδρα της που βρίσκεται στην πολυσύχναστη πόλη του Πεκίνου, η JINSP έχει δημιουργήσει μια πλήρως ιδιοκτησιακή θυγατρική εγκατάσταση παραγωγής που βρίσκεται στην επαρχία Τζιανγκσού της Κίνας.

Η εταιρεία JINSP έλαβε ISO9001:2015, ISO14001:2015Το JINSP μπορεί να παρέχει τα απαιτούμενα πιστοποιητικά, όπως πιστοποίηση από το Υπουργείο Δημόσιας Ασφάλειας ή το Εθνικό Ινστιτούτο Μετρολογίας,Πιστοποίηση περιβαλλοντικού επιπέδου, Πιστοποίηση επιπέδου IP, Πιστοποίηση CE, Έκθεση ταυτοποίησης μεταφορών, Πιστοποίηση ECAC της ΕΕ, Γερμανική δοκιμή ασφάλειας ΤΠΕ κλπ..

Γενικές ερωτήσεις

Ε: Είναι η πρώτη φορά που το χρησιμοποιώ, είναι εύκολο να το χειριστείς;

Α1:Θα σας στείλουμε εγχειρίδιο και οδηγό βίντεο στα αγγλικά,που θα σας διδάξει πώς να χειριστείτε το φασματομέτρο.Επίσης, οι τεχνικοί μας θα σας προσφέρουν επαγγελματικές τεχνικές συναντήσεις λειτουργίας.

Ε2:Μπορείτε να προσφέρετε μια επιχείρηση εκπαίδευσης;
Α2: Οι τεχνικοί σας μπορούν να έρθουν στο εργοστάσιό μας για εκπαίδευση.
(εγκατάσταση, εκπαίδευση, εντοπισμός προβλημάτων, συντήρηση).

Ε3: Ποια είναι η ιστοσελίδα σας;
Α3: Μπορείτε να επισκεφθείτε: www.jinsptech.com

Ε4:Τι γίνεται με την εγγύηση ποιότητας;

Α4: Έχουμε μια ομάδα ελέγχου ποιότητας. Όλα τα αγαθά θα περάσουν από έλεγχο ποιότητας πριν από την αποστολή. Μπορούμε να σας στείλουμε φωτογραφίες για έλεγχο.

ετικέτα:

Κουδούνιμο φάσμα Ραμάν(89)

αναλυτής αερίου raman(29)

Εργαλεία διεργασίας αναλυτών Ραμάν(35)

Σύνθετο CMOS φασματομέτρο(49)

Φύλακο-οπτικό φασματομετρητή(53)

Φασματόμετρος κοντινού υπέρυθρου(28)

Μοντυλό Ραμάν Φασματομετρικό(31)

Ελέγχων LIBS(10)

Προφίλ δέσμης CMOS(8)

Νανοδευτερολέπτου παλμικός λέιζερ(5)

Μη σχεδιαστής δακτυλικού ταλαντωτή λέιζερ(6)

Έλεγχος Ραμάν και κύτταρα ροής(8)

Δισκογραφικό Ραμάν Φασματόμετρο(13)

Φασματογράφος FTIR(13)

Φασματογράφος ΥΧΕ(13)

Η συνδεσιμότητα USB 3.0 και το ενεργό σύστημα ψύξης Ο νικητής συνδυασμός για το οπτικό μας φασματογράφο

UV-VIS 200nm-1100nm ευρύτατο εύρος κύματος Φυτικό οπτικό φασματογράφο

Παράμετροι προϊόντος:

Κατάλογος μοντέλων προϊόντων:

Τεχνικά χαρακτηριστικά:

Τυπικές εφαρμογές:

Εισαγωγή της εταιρείας:

Γενικές ερωτήσεις

Αναλυτής φάσματος οπτικών ινών

Φωτομετρητής φασμάτων οπτικών ινών

φασματομετρητή οπτικών ινών

Η JINSP Company Limited είναι επαγγελματίας προμηθευτής με πάνω από 17 χρόνια εμπειρίας στην ανάπτυξη και κατασκευή προϊόντων τεχνολογίας φασματικής ανίχνευσης.