Μας ελάτε σε επαφή με

Υπεύθυνος : Phoebe Yu

Τηλεφωνικό νούμερο : 8618620854039

Το WhatsApp : +8618620854039

Non-destructive and Accurate Film Thickness Measurement with Fiber Optic Spectrometer

Επικοινωνήστε

Μη καταστροφική και ακριβής μέτρηση του πάχους της ταινίας με φασματομετρητή οπτικών ινών

Ποσότητα παραγγελίας min :	1	Τιμή :	Διαπραγματεύσιμα
Συσκευασία λεπτομέρειες :	Διεθνής αποστολή συσκευασίας	Χρόνος παράδοσης :	90-120 εργάσιμες ημέρες
Όροι πληρωμής :	T/T, Western Union	Δυνατότητα προσφοράς :	100PCS/90-120 ημέρες

Τόπος καταγωγής:	Κίνα	Μάρκα:	JINSP
Πιστοποίηση:	ISO9001	Αριθμό μοντέλου:	SR100Q
Έγγραφο:	Βιβλίο του προϊόντος PDF

Λεπτομερής ενημέρωση
Φασματικό εύρος:	200 nm - 1100 nm	Αποτελεσματικά Pixels:	1024*122
Αποτελεσματικότητα Qutuam:	Το QE92% peak@650nm, 83%@232nm	ΣΕΠ:	1000:1

Περιγραφή προϊόντων

92% Υψηλός Κβαντικός Φασματογράφος για Μέτρηση Πάχους Φιλμ

Η παρακολούθηση του πάχους λεπτών φιλμ αποτελεί τη ραχοκοκαλιά του ποιοτικού ελέγχου στην κατασκευή ημιαγωγών και οθονών. Τα φωτοηλεκτρικά όργανα παρέχουν την ιδανική λύση—συνδυάζοντας την ακρίβεια με τη διατήρηση των ευαίσθητων στρώσεων. Μέσω της έξυπνης οπτικής διάγνωσης, οι βιομηχανίες αποκτούν εργαλεία για τη συνεχή βελτίωση της διαδικασίας και τις πρωτοποριακές εξελίξεις.

Ο φασματογράφος JINSP SR100Q είναι ενσωματωμένος με το Hamamatsu S7031, ένα τσιπ CCD περιοχής επιστημονικής ποιότητας με ψύξη TE. Με μέγεθος pixel έως 24*24μm και εξαιρετική κβαντική απόδοση έως και 92%, εξασφαλίζει υψηλή απόκριση στην υπεριώδη ζώνη και βελτιώνει αποτελεσματικά την ευαισθησία και το SNR των ασθενών σημάτων. Επιπλέον, μπορεί να πραγματοποιήσει εξαιρετικά φάσματα σημάτων και σταθερή και αξιόπιστη απόδοση με βάση την προηγμένη οπτική διαδρομή υψηλής ανάλυσης και το τσιπ επεξεργασίας σήματος FPGA χαμηλού θορύβου, υψηλής ταχύτητας.

Παράμετροι Προϊόντος:

Ανιχνευτής	Τύπος Τσιπ	Back-illuminated TE-cooled Hamamatsu S7031
	Αποτελεσματικό Pixel	1024*122
	Μέγεθος Pixel	24*24μm
	Περιοχή Ανίχνευσης	24.576*2.928mm
Οπτικός Παράμετροι	Οπτικός Σχεδιασμός	F/4 cross-type
	Αριθμητικό Διάφραγμα	0.13
	Εστιακή Απόσταση	100mm
	Πλάτος Εισόδου Σχισμής	10μm,25μm,50μm,100μm,200μm (προσαρμόσιμο)
	Διασύνδεση Ινών	SMA905, ελεύθερος χώρος
Ηλεκτρικός Παράμετροι	Χρόνος Ολοκλήρωσης	8ms-3600s
	Διασύνδεση Εξόδου Δεδομένων	USB3.0,RS232,RS485,20pin connector
	Βάθος Bit ADC	16-bit
	Τροφοδοσία	5V
	Λειτουργικό Ρεύμα	<3.5A
Φυσικός Παράμετροι	Θερμοκρασία Λειτουργίας	10℃~40℃
	Θερμοκρασία Αποθήκευσης	-20℃~60℃
	Λειτουργική Υγρασία	<90%RH (χωρίς συμπύκνωση)
	Διαστάσεις	180mm120mm50mm
	Βάρος	1.2kg

Λίστα Μοντέλων Προϊόντων:

Μοντέλο	Φασματικό Εύρος(nm)	Ανάλυση(nm)	Σχισμή(μm)
SR100Q-G21 SR100Q-G22	200~950 350~1100	6.8	200
		2.2	50
		1.5	25
		1.0	10
SR100Q-G23 SR100Q-G24	200~775 350~925	1.6	50
		1.0	25
		0.7	10
SR100Q-G25	532~690(4400cm-1)	13cm-1	50
SR100Q-G26	638~800(3200cm-1)*	10cm-1	25
SR100Q-G27	785~1050(3200cm-1)*	11cm-1	50

**Σημείωση: Τα*έχουν σχεδιαστεί κυρίως για εφαρμογές Raman, με το αντίστοιχο Raman.**

Τεχνικά Χαρακτηριστικά:

Υψηλή κβαντική απόδοση, 92%peak@650nm, 83%@232nm
Υψηλό SNR: Εξαιρετικά χαμηλός σκοτεινός θόρυβος υπό μακρύ χρόνο ολοκλήρωσης, το SNR είναι τόσο υψηλό όσο 1000:1

Καθαρή επεξεργασία χωρίς θόρυβο ασθενούς σήματος σε μεγάλη έκθεση, ισχυρή προσαρμογή στο περιβάλλον
Κύκλωμα χαμηλού θορύβου και υψηλής ταχύτητας: USB3.0

Μέθοδος Μέτρησης:

Το προσπίπτον φως από την αισθητήρα ινών αντανακλάται στις επάνω και κάτω επιφάνειες του φιλμ, δημιουργώντας παρεμβαλλόμενες δέσμες. Ο φασματογράφος αναλύει το φάσμα παρεμβολής τους, επιτρέποντας τον υπολογισμό του πάχους (d) μέσω της μεθόδου ακροτάτων (θ, n και δεδομένα κορυφής/κοιλότητας). Το υψηλότερο πάχος σφίγγει την απόσταση των κροσσών, ενώ τα μεγαλύτερα μήκη κύματος την επεκτείνουν. Οι ακριβείς μετρήσεις απαιτούν βελτιστοποιημένες φασματικές ρυθμίσεις.

Μη καταστροφική και ακριβής μέτρηση του πάχους της ταινίας με φασματομετρητή οπτικών ινών 0

Τυπικές Εφαρμογές:

Ανίχνευση απορρόφησης, διαπερατότητας και φάσματος ανάκλασης
Χαρακτηρισμός μήκους κύματος πηγής φωτός και λέιζερ
Μονάδα προϊόντος OEM: Φάσμα φθορισμού, φάσμα Raman, κ.λπ.

Μη καταστροφική και ακριβής μέτρηση του πάχους της ταινίας με φασματομετρητή οπτικών ινών 1

Μη καταστροφική και ακριβής μέτρηση του πάχους της ταινίας με φασματομετρητή οπτικών ινών 2

Εισαγωγή Εταιρείας:

Η JINSP Company Limited, συντομογραφία "JINSP", είναι ένας επαγγελματίας προμηθευτής με πάνω από 17 χρόνια εμπειρίας σε προϊόντα τεχνολογίας φασματικής ανίχνευσης, συμπεριλαμβανομένων των τεχνολογιών Raman, FT-IR, LIBS, κ.λπ. Μετά από 17 χρόνια συσσώρευσης τεχνολογίας, οι βασικές βασικές τεχνολογίες της εταιρείας έχουν φτάσει στην διεθνή κορυφαία θέση στο επίπεδο και ο σωρευτικός αριθμός των αιτήσεων διπλωμάτων ευρεσιτεχνίας ξεπέρασε τις 200.

Εκτός από την έδρα της που βρίσκεται στην πολυσύχναστη πόλη του Πεκίνου, η JINSP έχει δημιουργήσει μια θυγατρική μονάδα παραγωγής που βρίσκεται στην επαρχία Jiangsu, στην Κίνα.

Η JINSP Company έλαβε πιστοποιήσεις ISO9001:2015, ISO14001:2015 και ISO45001:2018. Η JINSP μπορεί να παρέχει τις απαιτούμενες πιστοποιήσεις, όπως πιστοποίηση από το Υπουργείο Δημόσιας Ασφάλειας ή το Εθνικό Ινστιτούτο Μετρολογίας, Περιβαλλοντική Πιστοποίηση Επιπέδου, Πιστοποίηση Επιπέδου IP, Πιστοποίηση CE, Έκθεση Αναγνώρισης Μεταφοράς, πιστοποίηση EU ECAC, Γερμανική Δοκιμή Ασφάλειας ΤΠ, κ.λπ..

Συχνές Ερωτήσεις

Ε1: Είναι η πρώτη φορά που χρησιμοποιώ, είναι εύκολο στη χρήση;

Α1: Θα σας στείλουμε εγχειρίδιο και οδηγό βίντεο στα Αγγλικά, μπορεί να σας διδάξει πώς να χειρίζεστε τον φασματογράφο. Επίσης, οι τεχνικοί μας θα προσφέρουν επαγγελματικές τεχνικές συναντήσεις.

Ε2: Μπορείτε να προσφέρετε εκπαίδευση λειτουργίας;
Α2: Οι τεχνικοί σας μπορούν να έρθουν στο εργοστάσιό μας για εκπαίδευση. Οι μηχανικοί της Jinsp μπορούν να πάνε στον χώρο σας για τοπική υποστήριξη
(εγκατάσταση, εκπαίδευση, εντοπισμός σφαλμάτων, συντήρηση).

Ε3: Ποιος είναι ο ιστότοπός σας;
Α3: Μπορείτε να επισκεφθείτε: www.jinsptech.com

Ε4: Τι γίνεται με τη διασφάλιση ποιότητας;

Α4: Έχουμε μια ομάδα επιθεώρησης ποιότητας. Όλα τα προϊόντα θα περάσουν από επιθεώρηση ποιότητας πριν από την αποστολή. Μπορούμε να σας στείλουμε φωτογραφίες για επιθεώρηση.

ετικέτα:

Κουδούνιμο φάσμα Ραμάν(89)

αναλυτής αερίου raman(29)

Εργαλεία διεργασίας αναλυτών Ραμάν(35)

Σύνθετο CMOS φασματομέτρο(49)

Φύλακο-οπτικό φασματομετρητή(53)

Φασματόμετρος κοντινού υπέρυθρου(28)

Μοντυλό Ραμάν Φασματομετρικό(31)

Ελέγχων LIBS(10)

Προφίλ δέσμης CMOS(8)

Νανοδευτερολέπτου παλμικός λέιζερ(5)

Μη σχεδιαστής δακτυλικού ταλαντωτή λέιζερ(6)

Έλεγχος Ραμάν και κύτταρα ροής(8)

Δισκογραφικό Ραμάν Φασματόμετρο(13)

Φασματογράφος FTIR(13)

Φασματογράφος ΥΧΕ(13)